Морфологические характеристики ПС и их взаимосвязь с оптическими свойствами
Тип: реферат
Категория: Физика
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬГРОДНЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени я.купалыКурсовая работа по специализации, на тему: морфологические характеристики ПС и их взаимосвязь с оптическими свойствамиКурсовая работа студента 5-го курса 1-ой группы физико–технического факультета дневного отделения Манжела Александра НиколаевичаНаучный руководитель:Василюк Генадий ТимофеевичГродно 2001СОДЕРЖАНИЕВведение3Техника и методика эксперимента и расчета4Морфология и спектры оптической плотности пленок серебра5взаимосвязь оптических характеристик и параметров шероховатости поверхности пленок серебра7ВЫВОДЫ14СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ15ВведениеВ спектроскопии гигантского комбинационного рассеяния (ГКР) света в качестве ГКР- активных поверхностей (субстратов) широко применяются пленки серебра (ПС), получаемые методом вакуумного напыления металла на стеклянные подложки и характеризующиеся высоким коэффициентом усиления КР 1-7. Наиболее критическими параметрами, ограничивающими использование таких субстратов в аналитических и физико- химических приложениях, являются -быстрая (за 10- 12 часов после напыления) деградация КР-усилительных свойств, объясняемая окислением кластеров серебра, образующих микроскопические дефекты поверхности- адсорбционные центры для молекул аналита;-нестабильность ПС в растворах некоторых органических растворителей (например, ацетонитрил);-свойства поверхности ПС, препятствующие адсорбции молекул, обладающих положительно заряженными фрагментами и, следовательно, делающие невозможным их изучение методами ГКР;-нарушение структуры адсорбированных молекул благодаря сильным (часто химическим) взаимодействиям между молекулами и поверхностью.Известно также, что стабильность, адсорбционные и оптические свойства ПС определяются морфологией ее поверхности.В настоящей работе методами математической статистики (корреляционного и факторного анализов) изучена взаимосвязь оптических характеристик пленок серебра (ПС) с параметрами их поверхности.Техника и методика эксперимента и расчета.Пленки серебра получены путем вакуумного (р10-5 Торр) напыления серебра на стеклянные подложки со скоростью 0.04 нмс в рабочей камере вакуумного поста ВУП-5. Термический отжиг пленок проводили на воздухе (в муфельной печи) при температуре до 350С 8. Для регистрации спектров оптической плотности использовался спектрометр SPECORD UV-VIS (Carl Zeiss). Контроль за структурой поверхности пленок осуществлялся с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) фирмы “Нанотехнология” (Москва). Все измерения выполнены при комнатной температуре. Проанализировано 40 образцов ПС с различными спектрами оптической плотности. Статистическая обработка результатов эксперимента проводилась методами корреляционного и факторного анализов с использованием специализированного программного пакета. Факторный анализ проводился методом главных компонент, в котором в качестве критерия оптимальности используют минимум расхождения между ковариационной матрицей исходных признаков и той, которая получается после оценки нагрузок (мера “расхождения” двух матриц в данном случае есть евклидова норма их разности).
